SEM CIQTEK

เครื่องมือ SEM คุณภาพสูง: ความคมชัดยอดเยี่ยม ประสิทธิภาพสูงสุด และใช้งานง่าย

คุณภาพภาพระดับสูงสุด — ได้ภาพคมชัด คอนทราสต์สูง แม้ที่กำลังขยายสูงมาก ระบบ FE-SEM และ FIB-SEM มอบความละเอียดระดับอัลตร้าสูง ช่วยให้คุณสังเกตโครงสร้างระดับนาโนได้อย่างที่ไม่เคยมีมาก่อน
ประสิทธิภาพโดดเด่น — ความเร็วในการสแกนสูง ลำอิเล็กตรอนเสถียร รองรับตัวตรวจจับที่หลากหลาย (เช่น BSE, EDS เป็นต้น) ลดเวลาหยุดทำงานให้น้อยที่สุด ไม่ว่าจะเป็นการวิเคราะห์พื้นผิววัสดุ การตรวจสอบสารกึ่งตัวนำ หรือการศึกษาตัวอย่างทางชีวภาพ เครื่อง SEM ของเราพร้อมตอบโจทย์
ใช้งานง่าย — อินเทอร์เฟซเข้าใจง่าย ระบบใส่ตัวอย่างที่สะดวก การควบคุมตามหลักสรีรศาสตร์ ระบบของ CIQTEK ออกแบบมาเพื่อให้ได้ทั้งประสิทธิภาพสูง และความง่ายในการใช้งาน แม้สำหรับผู้ที่ไม่ใช่ผู้เชี่ยวชาญ
โซลูชันที่ยืดหยุ่น — เลือกรุ่น Tungsten Filament ที่คุ้มค่า ให้ผลลัพธ์ที่มั่นใจ หรืออัปเกรดเป็น FE-SEM และ FIB-SEM เพื่อความละเอียดที่สูงขึ้น ความลึกชัดที่มากกว่า และความสามารถด้านการวิเคราะห์ขั้นสูง

. .

Tungsten SEM Field Emission SEM Focused Ion Beam SEM