Tungsten SEM
- อินเทอร์เฟซใช้งานง่าย — เวิร์กโฟลว์ที่เป็นระบบ ซอฟต์แวร์เข้าใจง่าย และระบบใส่ตัวอย่างที่สะดวก ช่วยลดระยะเวลาในการเรียนรู้ของผู้ใช้งาน
- ภาพความละเอียดสูง — บันทึกโครงสร้างพื้นผิวได้อย่างคมชัดและละเอียด ด้วยเทคโนโลยีแหล่งกำเนิดอิเล็กตรอนแบบทังสเตนที่มีความเสถียร
- ประสิทธิภาพที่เชื่อถือได้ — ช่วงกำลังขยายที่ยอดเยี่ยม รองรับตัวตรวจจับหลากหลาย และระบบสุญญากาศที่มีความเสถียร ให้ผลลัพธ์ที่สม่ำเสมอในงานวิเคราะห์ที่หลากหลาย
- โซลูชันที่คุ้มค่า — ให้ศักยภาพการวิเคราะห์ที่แข็งแกร่ง โดยไม่ต้องลงทุนสูงเทียบเท่า FE-SEM เหมาะอย่างยิ่งสำหรับงานประจำวันและห้องปฏิบัติการเพื่อการศึกษา
CIQTEK SEM2100 มอบภาพที่คมชัดและมีความละเอียดสูง ด้วยแหล่งกำเนิดอิเล็กตรอนแบบทังสเตนที่มีความเสถียร
ออกแบบมาสำหรับงานด้านการศึกษา งานวิจัย และการตรวจสอบในภาคอุตสาหกรรม โดยผสานประสิทธิภาพ ความน่าเชื่อถือ และความคุ้มค่าไว้ในเครื่องเดียว
CIQTEK SEM3200 มอบประสิทธิภาพการถ่ายภาพขั้นสูง พร้อมโหมด Low Vacuum ที่ยืดหยุ่น ช่วยให้สามารถสังเกตตัวอย่างที่ไม่นำไฟฟ้าหรือบอบบางได้อย่างชัดเจน โดยไม่จำเป็นต้องเคลือบผิวผสานความละเอียดสูง สภาวะการทำงานที่ปรับได้หลากหลาย และอินเทอร์เฟซที่ใช้งานง่าย เหมาะสำหรับทั้งงานวิจัยและงานอุตสาหกรรม
CIQTEK SEM3300 มาพร้อมตัวตรวจจับแบบ In-Lens ประสิทธิภาพสูง ให้ภาพพื้นผิวและโครงสร้างละเอียดระดับนาโนได้อย่างคมชัดเป็นพิเศษ ผสานความเสถียรของเทคโนโลยีแหล่งกำเนิดอิเล็กตรอนแบบทังสเตน เข้ากับระบบตรวจจับขั้นสูง เพื่อให้ได้คอนทราสต์คมชัด และการวิเคราะห์ที่ละเอียดแม่นยำ