AFM Knowledge Center
ศูนย์ความรู้เรื่องกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM Knowledge Center)
ศูนย์ความรู้แห่งนี้จัดทำขึ้นเพื่อรวบรวมข้อมูล ความรู้พื้นฐาน และหลักการทำงานของกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (Atomic Force Microscope: AFM) ตั้งแต่แนวคิดเบื้องต้นเกี่ยวกับโลกนาโน การทำงานของหัวตรวจวัด ไปจนถึงเทคนิคการสร้างภาพและการประยุกต์ใช้งานในด้านต่าง ๆ ทั้งทางวิทยาศาสตร์ วัสดุศาสตร์ และเทคโนโลยีสมัยใหม่
ที่นี่คุณจะได้เรียนรู้วิธีที่ AFM เปิดโลกแห่งสสารในระดับอะตอม ผ่านบทความ ภาพประกอบ และวิดีโอสาธิตที่เข้าใจง่าย เพื่อให้ทั้งนักวิจัย วิศวกร และผู้สนใจทั่วไปสามารถเข้าถึงความเข้าใจเชิงลึกของเทคโนโลยีระดับนาโนได้อย่างแท้จริง
1. หลักการทำงานของ AFM
2. การทำงานของ AFM แบบ True Non Contact
3. การทำงานของ AFM แบบ Contact Mode
4. การทำงานของ AFM แบบ Tapping Mode
5. การทำงานของ Conductive AFM
6. การทำงานของ AFM โหมด IV Spectroscopy
7. การทำงานของ AFM โหมด Scanning Spreading Resistance Microscopy(SSRM)
8. การทำงานของ AFM โหมด Magnetic Force Microscopy (MFM)
9. การทำงานของ AFM โหมด Kelvin Probe Force Microscopy
10. การทำงานของ AFM โหมด Nanoindentation
11. การทำงานของ AFM โหมด Force Distance Spectroscopy
8. การทำงานของ AFM โหมด Nanolithography
Powered by
MakeWebEasy.com