Knowledge Center

 Knowledge Center
ศูนย์รวมความรู้ด้านการวิเคราะห์พื้นผิวและวัสดุ


                 ยินดีต้อนรับสู่ Knowledge Center — แหล่งรวมความรู้และข้อมูลเชิงลึกเกี่ยวกับเทคนิคการวิเคราะห์ขั้นสูง
ที่นี่คุณจะได้เรียนรู้หลักการทำงานและการประยุกต์ใช้งานของ Atomic Force Microscopy (AFM), Scanning Electron Microscopy (SEM) และเทคนิค Spectroscopy หลากหลายประเภท ซึ่งใช้ในการศึกษาลักษณะโครงสร้าง องค์ประกอบ และสมบัติของวัสดุในระดับนาโน
                 ไม่ว่าคุณจะเป็นนักวิจัย วิศวกร หรือ นักศึกษา ศูนย์ความรู้แห่งนี้ถูกออกแบบมาเพื่อช่วยให้คุณเข้าใจเทคโนโลยีเหล่านี้อย่างลึกซึ้ง — ทั้งในด้านการสร้างภาพความละเอียดสูง ไปจนถึงการวิเคราะห์เชิงเคมีอย่างแม่นยำ เพื่อเปิดโลกแห่งวัสดุที่มองไม่เห็นให้ชัดเจนยิ่งขึ้น

ศูนย์การเรียนรู้กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม

Spectroscopy Techniques

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด




Powered by MakeWebEasy.com
This website uses cookies for best user experience, to find out more you can go to our Privacy Policy  และ  Cookies Policy